產品中心
Product Center
當前位置:首頁
產品中心
熒光光譜系列
激光掃描共聚焦熒光成像系統
FLIM300多功能激光掃描共聚焦熒光成像系統
                    
多功能激光掃描共聚焦熒光成像系統
產品簡介
                  product
產品分類多功能激光掃描共聚焦熒光成像系統-FLIM300產品功能:
熒光強度、壽命成像
載流子遷移成像
熒光/拉曼光譜采集
光電流成像
電致發光成像
多功能激光掃描共聚焦熒光成像系統-FLIM300主要技術指標:
激光掃描振鏡模塊參數
進光方式  | 激光光纖輸入,配電控光闌系統  | 
掃描成像范圍  | 4096*4096pix(Max)  | 
掃描波長范圍  | 400-900nm  | 
倒置顯微鏡模塊
物鏡  | 100x、50x、10x空氣鏡(可選配油鏡)  | 
最高空間分辨率  | ≤260nm  | 
穩態光譜檢測模塊
單色儀焦長  | 300mm  | 
探測器  | PMT或CCD  | 
波長探測范圍  | 400-900nm  | 
TCSPC模塊
時間精度  | 7ps  | 
光譜檢測范圍  | 400-900nm  | 
Bin通道數  | 4096  | 
時間窗口  | 5μs(可拓展長壽命檢測)  | 
時間分辨率  | ≤70ps  | 
選配模塊
皮秒半導體激光器375/405/440/480/510/635/665/690/850/940/1060nm  | 
可選皮秒超連續白光激光器410nm-2400nm,配濾波器實現波長可調  | 
熒光強度成像、熒光壽命成像
共聚焦掃描成像模式
樣品名稱  | MAP bI3納米線  | 
物鏡  | 100X  | 
激發波長  | 400nm  | 








